產品信息

產品詳情

該測量儀器具有開發(fā)和檢測高質量顯示器所需的測量性能，是將*新數字技術與多年積累的傳感器技術相結合的分光輻射計的**型號。
在保持與之前型號 CS-2000 系列的數據兼容性的同時，它實現了從超低亮度到高亮度的寬動態(tài)范圍的**測量，以及顯著的速度和自動化。

主要應用

測量LCD、OLED、Micro LED和Mini LED等各種顯示器的亮度和色度

在超低亮度下保證精度

它繼承了出色的光學設計和信號處理技術，實現了測量顯示器等各種光源參考值所需的高精度。 在整個測量波長上，可以在CIE（CIE122-1996）推薦的5nm或更小的半*大范圍內進行**測量，并且抑制了低亮度的噪聲。
CS-3000HDR保證了在1°測量角度下亮度為0.0001 cd/m2~的亮度的精度和可重復性。

保證每個測量角度的色度精度

CIE1931 xy 色度和 CIE1976 ucs 色度圖 u'v' 保證了每個測量角度的準確性和可重復性。

寬測量動態(tài)范圍

為了滿足顯示器以更生動、更高質量的顯示器為目標而不斷發(fā)展的測量需求，我們實現了從超低亮度到高亮度的寬動態(tài)范圍內的**測量，測量角度為1°，通常用于參考值測量。 除了目前主流的LCD和OLED外，它還支持使用Micro LED和Mini LED對HDR顯示器進行標準值測量。

精度保證亮度范圍（亮度測量） @測定角1°： 0.0001~100,000cd/m2

高速模式

FAST 模式：與 NORMAL 相比，測量積分時間
約為 1/6 SUPER FAST1 模式：與 NORMAL SUPER FAST2 模式相比，測量積分時間
約為 1/20

智能深色功能

通過跳過暗測量并使用來自傳感器的校正信息來補償波動，在保持高精度的同時縮短了測量時間。

發(fā)射頻率檢測和設定功能

此功能檢測顯示器的發(fā)射頻率，并將測量積分時間設置為頻率的整數倍。 在不延長時間的情況下，可以避免由于測量積分時間與發(fā)射頻率不匹配的“同步錯位”而導致的重復性下降。

縮短了正常模式下的測量時間

通過實施新的測量控制，縮短了正常模式下的測量時間。

關于正常模式：
此模式將積分時間從 0.005 秒更改為 92 秒（CS-2000Plus 為 120 秒），具體取決于測量光源的亮度。 這是一種面向性能的低亮度測量模式，可在約 4 cd/m2（測量角度為 1°）或更低的低亮度下提高精度和可重復性。

兼容 CS-2000A/CS-2000

您可以繼續(xù)利用 CS-2000A/CS-2000 的高可靠性測量數據。 通信規(guī)格、產品形狀和螺絲孔位置也兼容，因此切換到 CS-3000HDR/CS-3000 沒有重大障礙。

光譜輻射計系列功能比較

長處

• 兼容 Windows 和 Mac
• 可以設置和執(zhí)行各種測量功能，并且可以圖形化地顯示測量值。
• 除了亮度、色度和光譜圖外，還支持 L*a*b* 顯示。
• 可配置CIE1931（2°視場）和CIE1964（10°視場），CIE170-2：2015（2°/10°視場）
• 色度值可以使用任意等色函數計算。