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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：RIGAKU日本理學(xué) 臺(tái)式熒光X射線分析儀

  • 產(chǎn)品型號(hào)：NANOHUNTER II
  • 產(chǎn)品廠商：RIGAKU日本理學(xué)
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
這是一種使用封閉式 X 射線管的臺(tái)式全內(nèi)反射熒光 X 射線分析儀。采用全內(nèi)反射熒光X射線光譜儀，可以高靈敏度地對(duì)固體樣品表面進(jìn)行元素分析。雖然是臺(tái)式，但配備了全自動(dòng)光軸調(diào)整系統(tǒng)，無(wú)論基材如何，都可以進(jìn)行穩(wěn)定的分析。另外，由于可以改變X射線的入射角度，因此不僅可以獲得表面附近的元素信息，還可以獲得深度方向的元素信息。
詳情介紹：
高強(qiáng)度/高靈敏度測(cè)量
使用600W高功率X射線源、反射鏡和大面積SDD可以進(jìn)行高靈敏度測(cè)量。我們已實(shí)現(xiàn)有害元素 As、Se 和 Cd 的 ppb 級(jí)檢測(cè)限。
可選擇多種激發(fā)條件
在標(biāo)準(zhǔn)激發(fā)條件（Mo靶）下，可有效激發(fā)As、Pb等有害元素。
雙結(jié)構(gòu)多層膜允許使用高能激發(fā)條件（約30keV），使得可以使用光譜重疊較少的Cd、Ag等的K線區(qū)域作為測(cè)量線。
可變?nèi)肷浣菣C(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)角度分辨測(cè)量
通過(guò)使用任意改變?nèi)肷浣堑臋C(jī)制，現(xiàn)在不僅可以獲得表面附近的元素信息，還可以獲得深度方向的元素信息。
用于薄膜深度分析的 GI-XRF

在固體表面分析領(lǐng)域，需要比表面略深入的分析（主要是薄膜和厚膜領(lǐng)域）。對(duì)于這種類型的分析，采用一種稱為掠入射 X 射線熒光 (GI -XRF) 的方法，通過(guò)改變 X 射線源的入射角來(lái)激發(fā)地下元素。 NANOHUNTER II TXRF 光譜儀的可變?nèi)肷浣鞘沟每梢詫?duì)深度剖面進(jìn)行表面分析。 GI -XRF技術(shù)適用于納米級(jí)研究

製品名 NANOHUNTER II
手法 全反射蛍光X線（TXRF）
用途 液體や固體表面の高感度超微量元素分析
テクノロジー TXRFとGI-XRF
主要コンポーネント 600 W X線源、大面積検出器（SDD）
オプション N? ガスまたはHeガス置換
制御(PC) 外部PC
本體寸法 697 (W) x 691 (H) x 597 (D) (mm)
質(zhì)量 100 kg（本體）
電源要件 単相 100-240 V、15 A

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