“同時(shí)”可視化表面上的 “扭曲 ”和 “劃痕 ”

IFVA-PA 系列可以同時(shí)照射同一光軸上的
兩種不同類型的光 同時(shí)可視化難以用肉眼檢測(cè)到的高反射材料（如光盤等）的“失真”，以及表面的“劃痕” 在紅光照射下
，通過反射工件上的點(diǎn)狀圖案來減少表面失真。
在藍(lán)光照射中，通過將劃痕作為鏡面反射光進(jìn)行檢查，可以清楚地檢測(cè)到微小的劃痕。通過
切換照射，即使使用單色相機(jī)也可以檢測(cè)到。