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產(chǎn)品列表

HORIBA日本堀場光譜顯微鏡對現(xiàn)有顯微鏡進行簡單升級，或者使用開箱即用的交鑰匙顯微分光光度計系統(tǒng)。憑借其獨特的配件，SMS系列系統(tǒng)使任何標準顯微鏡都能配備光譜儀和檢測器，從而能夠執(zhí)行以下技術(shù) 查看詳情
HORIBA日本堀場光譜顯微鏡對現(xiàn)有顯微鏡進行簡單升級，或者使用開箱即用的交鑰匙顯微分光光度計系統(tǒng)。憑借其獨特的配件，SMS系列系統(tǒng)使任何標準顯微鏡都能配備光譜儀和檢測器，從而能夠執(zhí)行以下技術(shù) 查看詳情
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HORIBA日本堀場離心式粒度分析儀通過離心進行高分辨率粒度分布測量。 CN-300 的測量范圍為 10 nm - 40 μm，可施加高達 30,000g 的離心力，并使用溫度控制為各種樣品產(chǎn)生準確的測量結(jié)果。根據(jù)客戶反饋開發(fā)并改進現(xiàn)有和新的 HORIBA 技術(shù)，其結(jié)果是提供**可靠的操作，同時也易于使用的分析儀。查看詳情
HORIBA日本堀場動態(tài)圖像分析 ANALYSETTE 28 ImageSizer是理想的粒度儀，適用于所有需要**和可重復測量粉末、大塊固體以及懸浮液和乳液顆粒形狀和尺寸的應(yīng)用。動態(tài)圖像分析的光學過程提供了寬測量范圍的結(jié)果，提供了多種形狀參數(shù)和顆粒尺寸的評估可能性。測量時間不到5分鐘，具體取決于樣本數(shù)量，并且可以立即獲得結(jié)果。查看詳情
HORIBA日本堀場納米粒度及Zeta電位分析儀先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。查看詳情
HORIBA日本堀場納米粒度及Zeta電位分析儀先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。查看詳情
HORIBA日本堀場納米顆粒追蹤分析儀采用多波長激光對外泌體、病毒等納米材料樣品中的所有顆粒進行完整、詳細的分析。外泌體、病毒和納米顆粒都具有較寬的粒徑分布，這使得傳統(tǒng)的納米顆粒追蹤分析 (NTA)儀無法準確測量它們的粒徑分布。ViewSizer 3000的三個激光器可同時工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的*準確的分布和濃度信息。如果某一顆粒來自某一激光的散射光信號太強使檢測器達到飽和，軟件會自動使用來自較低功率激光器的數(shù)據(jù)來確保獲得*準確的尺寸和濃度信息。另一方面，當來自某一激光的散射光信號太弱而無法檢測時，軟件會使用更高功率激光的數(shù)據(jù)來準確跟蹤顆粒。查看詳情

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