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- TSUBAKI椿本
- THK軸承
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- KETT凱特
- KRK笠原理化
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- SAKAGUCHI坂口電熱加...
- KOYO光陽(yáng)
- LUBE泵閥
- KURABO久保田脫泡機(jī)
- MCRL村上分光測(cè)色儀
- NIPPONMUKI無(wú)機(jī)過(guò)濾...
- ORC歐阿希照度計(jì)
- USHIO牛尾UV燈
- SAKURAI櫻井打印紙
- KEYENCE基恩士
- LUCEO魯機(jī)歐應(yīng)力儀
- SANEI三榮電機(jī)
- NPM日脈電機(jī)馬達(dá)
- NBK鍋屋工裝夾具
- AKRIBIS雅克貝斯精密平...
- COSMO科斯莫檢漏儀
- SAMJUNG禪才離子風(fēng)棒
- SUMITA住田光纖
- HAYASHI林時(shí)計(jì)光纖光源
- METROL美德龍
- VALQUA華爾卡配管部品
- CHINO千野溫濕度計(jì)
- HIKARIYA光屋檢查燈
- HEIDON新東攪拌機(jī)
- SOLAX/SERIC索納克...
- SANKO山高膜厚計(jì)
- ITOH伊藤粉碎機(jī)
- NEWKON新光針孔機(jī)
- ONOSOKKI小野編碼器
- ELMEX安科生物涂抹棒
- AxoScan美國(guó)
- MITSUI ELECTRI...
- FUJICOM富士
- HAYASHI林時(shí)計(jì)
- Navitar納維塔爾鏡頭
- KANETEC強(qiáng)力脫磁裝置
- NPM日本脈沖電機(jī)
- YUASA尤阿薩折彎?rùn)C(jī)
- UNILAM優(yōu)尼光紫外燈
- POLARION普拉瑞探照燈
- AND艾安得
- JIKCO吉高濃度計(jì)
- IIJIMA飯島酸素計(jì)
- SPAIR日信工具
- Axometrics美國(guó)
- ASAHI旭精工
- DSK電通熒光燈
- DNL**燈
- ORIHARA折原應(yīng)力儀
- NIKKATO日陶研磨球
- NDK日本電色霧度計(jì)
- DRY-CABI德瑞卡比防潮...
拉曼激光和AFM反饋激光相互無(wú)干擾
1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見(jiàn)光和近紅外拉曼激光(364-830 nm)毫無(wú)相互干擾,并且消除了對(duì)可見(jiàn)光敏感生物和光伏樣品的任何寄生影響。
拉曼激光直達(dá)懸臂
OmegaScope系統(tǒng)將AFM和光學(xué)通道完全分離。這種獨(dú)立性不限制拉曼激光所需的波長(zhǎng),與AFM激光通過(guò)與拉曼激發(fā)激光相同的高孔徑物鏡的系統(tǒng)相比,簡(jiǎn)化了整個(gè)系統(tǒng)的調(diào)節(jié)。用戶可以輕松地重新聚焦高NA物鏡,而無(wú)需對(duì)AFM激光器進(jìn)行任何額外的重新調(diào)整。OmegaScope的設(shè)計(jì)為原子力顯微鏡提供了更高的穩(wěn)定性,降低了對(duì)震動(dòng)和噪聲的靈敏性。
簡(jiǎn)單、快速、可重復(fù)的懸臂調(diào)整
采用固定式AFM激光器的設(shè)計(jì),激發(fā)激光對(duì)懸臂梁針尖的調(diào)節(jié),簡(jiǎn)單快捷。此外,如果安裝相同類型的新懸臂,就可以很容易地找到和掃描樣品表面上的相同區(qū)域(在幾微米的重復(fù)性范圍內(nèi)),而無(wú)需任何額外的搜索。
自動(dòng)AFM登記系統(tǒng)調(diào)整
SmartSPM掃描探針顯微鏡是OmegaScope系統(tǒng)反射式機(jī)構(gòu)的配置核心,也是**臺(tái)從設(shè)計(jì)到耦合HORIBA光譜儀的采用激光-懸臂-光電二極管全自動(dòng)準(zhǔn)直的掃描探針顯微鏡。
快速掃描
采用業(yè)界*高的高共振頻率掃描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實(shí)現(xiàn)快速掃描。
振動(dòng)穩(wěn)定性,聲學(xué)穩(wěn)定性,高頻的快速掃描器
快速響應(yīng)時(shí)間,低漂移和量值溯源。采用業(yè)界*好的平板閉環(huán)掃描器,掃描范圍為100μmx100μmx15μm,單個(gè)掃描器可以實(shí)現(xiàn)大范圍測(cè)量到真正的分子分辨率成像。歸功于掃描器和整個(gè)原子力顯微鏡的高機(jī)械剛度,即使沒(méi)有主動(dòng)減震保護(hù),也可以保證OmegaScope杰出性能。這些獨(dú)特的特性還允許實(shí)現(xiàn)特殊和更復(fù)雜的掃描算法,如Top模式。在這種模式下,針尖在掃描點(diǎn)之間被提升到樣品表面上方。在每一個(gè)掃描點(diǎn),探針都會(huì)回到樣品表面。掃描信號(hào)在針尖振蕩幅度達(dá)到設(shè)定閾值后立即測(cè)量。它可以避免任何橫向力的相互作用,例如保證TERS探針的**性,同時(shí)保持掃描率高達(dá)1Hz。
輕松更換樣品
OmegaScope AFM平臺(tái)設(shè)計(jì)允許在不取下FM頭和懸臂支架的情況下更換樣品。它大大提高了實(shí)驗(yàn)的可靠性,避免了操作人員在這類常規(guī)過(guò)程中可能出現(xiàn)的錯(cuò)誤。
頂部和側(cè)向光路照明
頂部和側(cè)向的光學(xué)通道均可進(jìn)入針尖-樣品區(qū),充分利用紅外、可見(jiàn)光和紫外高NA平消色差物鏡光譜成像能力(頂部物鏡:高達(dá)0.7NA;側(cè)向物鏡:高達(dá)0.7NA)和原子力顯微鏡相關(guān)技術(shù),可在寬光譜范圍和*小激發(fā)激光光斑面積內(nèi),對(duì)樣品表面的光信號(hào)進(jìn)行共焦檢測(cè)。側(cè)向光路在TERS和TEPL實(shí)驗(yàn)中的成功歸功于OmegaScope系統(tǒng)設(shè)計(jì)的合理性,它提供了更重要的電磁場(chǎng)的軸向分量,有效地激發(fā)了針尖-樣品結(jié)中的等離激元共振。
頂部和側(cè)向物鏡掃描器
為了使AFM針尖和拉曼激光束完全對(duì)準(zhǔn),平板閉環(huán)XYZ物鏡掃描器可以安裝在頂部、側(cè)向和底部。此外,這種解決方案提供了盡可能高的分辨率、長(zhǎng)期穩(wěn)定性和對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)化,加上更寬的光譜范圍,盡可能少的輸入/輸出系統(tǒng)中的光學(xué)元件,從而大大減少了有用光信號(hào)的損失。
鎖相環(huán)控制的內(nèi)置DFM測(cè)量
動(dòng)態(tài)力顯微鏡(DFM)模式是OmegaScope系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置。利用控制器內(nèi)置的鎖相環(huán)(PLL)電路,設(shè)計(jì)了一種適用于該模式的調(diào)頻(FM)檢測(cè)器。使用DFM可以可靠地保持*小的針尖-樣品相互作用(即在吸引力區(qū)域內(nèi)成像),這對(duì)于成功的TERS和掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)實(shí)驗(yàn)來(lái)說(shuō)是非常關(guān)鍵的。
STM、導(dǎo)電AFM和SNOM選項(xiàng)
與光譜測(cè)量同時(shí),OmegaScope可以配備獨(dú)特的模塊,使用該模塊可以測(cè)量AFM或STM中三個(gè)線性范圍(1nA、100nA和10uA)的局部電流。這些范圍可以在軟件中切換,其中每個(gè)范圍所需的帶寬可以從100Hz到7kHz進(jìn)行選擇。在1na和1300nm原子力顯微鏡激光的測(cè)量范圍內(nèi),60fA的導(dǎo)電模塊噪聲級(jí)為光電領(lǐng)域的導(dǎo)電性測(cè)量樹(shù)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。
除了OmegaScope平臺(tái)的特殊靈活性之外,還提供了基于音叉反饋設(shè)計(jì)的SNOM。除了標(biāo)準(zhǔn)的SNOM實(shí)驗(yàn)外,您還可以遵循經(jīng)典的納米光學(xué),特別是無(wú)光闌SNOM,使用具有適當(dāng)偏振的飛秒激光脈沖照明的金屬針尖進(jìn)行近場(chǎng)熒光成像。
SmartSPM掃描器和基座
閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)
掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開(kāi));
XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);
Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開(kāi))
高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz
X, Y, Z自動(dòng)趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達(dá)趨近距離18mm
樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm
樣品定位:自動(dòng)樣品臺(tái)范圍:5 mm x 5 mm
定位精度:1μm
AFM測(cè)試頭HE002
激光波長(zhǎng):1300nm
激光對(duì)生物樣品無(wú)影響;
激光對(duì)光電測(cè)量無(wú)影響;
系統(tǒng)噪聲:< 0.1 nm
全電動(dòng):4步進(jìn)電機(jī)用于懸臂和光電二極管自動(dòng)對(duì)準(zhǔn);
探針通道:為外部操作和探針提供自由通道;
頂部和側(cè)向同時(shí)光路通道:帶平消色差物鏡,可同時(shí)高達(dá)100x,NA0.7側(cè)向物鏡和10x,NA0.28頂部物鏡;
SPM測(cè)量模式
標(biāo)準(zhǔn)模式:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式(LFM)、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式(MFM)、開(kāi)爾文探針模式(表面電勢(shì),SKM,KPFM)、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式(EFM)、力曲線測(cè)量、壓電響應(yīng)模式(PFM)、納米蝕刻、納米操縱
升級(jí)模式:溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導(dǎo)電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測(cè)
同步Raman的SPM測(cè)量模式
空中接觸原子力顯微鏡;
液體接觸原子力顯微鏡(可選);
空氣中的半接觸原子力顯微鏡;
液體半接觸原子力顯微鏡(可選);
動(dòng)態(tài)力顯微鏡(DFM,F(xiàn)M-AFM);
耗散力顯微鏡;
真正非接觸原子力顯微鏡;
相位成像;
側(cè)向力顯微鏡;
力調(diào)制;
導(dǎo)電原子力顯微鏡(可選);
單通開(kāi)爾文探頭;
壓電響應(yīng)力顯微鏡;
STM(可選);
光電流成像(可選);
帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM)(可選);
帶音叉的法向力顯微鏡(可選)。
光譜模式
共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像
針尖增強(qiáng)拉曼光譜(AFM,STM等)
針尖增強(qiáng)熒光
近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)
電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)
導(dǎo)電力AFM(選購(gòu))
電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)
光路耦合通道
頂部和側(cè)向能夠同時(shí)使用消色差物鏡:從頂部或側(cè)向*高可用100X,NA0.7物鏡;可同時(shí)使用20倍和100倍.
長(zhǎng)期光譜激光穩(wěn)定對(duì)準(zhǔn)的閉環(huán)壓電物鏡掃描器:20μm x 20μm x 15μm;分辨率:1nm
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!