產(chǎn)品特性和功能

1分單點測量

非接觸式非接觸式

一種簡單的測量儀器，只需在探頭之間插入拉力即可進(jìn)行測量

• 在電阻率和薄層電阻測量模式之間輕松切換
• 通過 JOG 刻度盤輕松設(shè)置測量條件

※由于探頭是固定的，因此您可以在購買前從多種類型的探頭中選擇一種類型

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

• 半導(dǎo)體和太陽能電池材料（硅、多晶硅、碳化硅等）
• 新型功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
• 導(dǎo)電薄膜（金屬、ITO等）
• 化合物半導(dǎo)體（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
• 其他（*請聯(lián)系我們）

目標(biāo)大小

~8 英寸或 ~156 x 156 毫米

測量范圍

[電阻率] 1m~200Ω·cm
（*所有探頭類型的總量程/500um厚度）
[片狀電阻] 10m~3kΩ/sq
（*所有探頭類型的總量程）

*每種探頭類型的測量范圍請參考以下內(nèi)容。
（1）低：0.01~0.5Ω/□（0.001~0.05Ω·cm）
（2）中：0.5~10Ω/□（0.05~0.5Ω·cm）
（3）高：10~1,000Ω/□（0.5~60Ω·cm）
（4）S-高：1,000~3,000Ω/ □（60~200Ω·cm）

產(chǎn)品尺寸

W220×D325×H210mm 約
6.5kg