TSI美國進口 通用掃描遷移率粒徑測定儀 3039
TSI美國進口 通用掃描遷移率粒徑測定儀 3039

選擇氣溶膠尺寸測量的全球標準配置。30 多年來，TSI 掃描遷移率測分譜儀 （SMPS?） 一直在幫助獲得氣溶膠研究的新見解，并協(xié)助校準其他儀器。美國國家標準與技術(shù)研究院 （NIST） 和全球許多其他參考實驗室使用 TSI SMPS? 進行亞微米粒度分布測量。TSI SMPS? 是研究人員進行納米粒度分布測量的優(yōu)選。
通用掃描遷移率 Particle Sizer SMPS 采用模塊化、基于組件的設計，允許您選擇實現(xiàn)粒度測量目標所需的組件。這款第三代型號具有非常高的尺寸分辨率、快速掃描（每次掃描 <15 秒）和自動組件識別功能。所有配置都易于使用，并提供*高質(zhì)量的可用數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品詳情
掃描遷移率粒徑譜儀 （SMPS?） 光譜儀是一種納米顆粒粒度儀，能夠準確和精密地測量空氣中亞微米顆粒的粒度分布。它將電遷移率定量與單顆粒計數(shù)相結(jié)合，在離散尺寸通道中提供納米顆粒濃度。SMPS? 的尺寸分辨率能力高達每十倍頻程 128 個通道，總共多達 384 個通道。
SMPS? 3938 基于組件，允許用戶定制其 SMPS 以滿足其實驗需求。用戶可以在四種差分遷移率分析儀 （DMA）、六種冷凝粒子計數(shù)器 （CPC） 和兩種不同的中和技術(shù)中進行選擇，從而能夠在 1 nm 至 1 μm 的范圍內(nèi)進行測量。當 SMPS 與光學粒徑儀 （OPS） 或空氣動力學粒徑儀 （APS） 耦合時，連續(xù)測量范圍可以分別擴展到 10 μm 或 20 μm。
應用
大氣研究和環(huán)境監(jiān)測
室內(nèi)空氣質(zhì)量測量
成核/縮合研究
燃燒和發(fā)動機尾氣研究
吸入毒理學研究
納米技術(shù)研究和材料合成
特性和優(yōu)勢
高分辨率數(shù)據(jù)：128 個通道/十倍頻程的分辨率，*多可達 384 個可能通道
尺寸范圍廣：從 1 nm 到 1,000 nm
符合 ISO 15900：2009 標準
快速測量： <15 秒掃描
濃度范圍廣，*高可達 107顆粒/厘米3
模塊化組件設計，實現(xiàn)*大靈活性
用于獨立作的觸摸屏控制（無需計算機）
無需工具即可安裝并自動檢測組件，輕松設置
離散顆粒測量：適用于多模式樣品
粒度測量與顆粒和流體的光學特性無關(guān)
廣泛的系統(tǒng)選項：可選擇水或丁醇 CPC;可選擇傳統(tǒng)或非放射性中和劑
內(nèi)含物品
靜電分級機，可選 DMA 色譜柱
六個 CPC 之一
氣溶膠式儀器管理器®軟件
氣溶膠中和劑和用于數(shù)據(jù)收集的計算機必須單獨購買。